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Microscopios FT-IR

Caracterisiticas

Los microscopios FT-IR se usan generalmente para medir muestras especificados tales como pequeños contaminantes en películas o placas. JASCO 's innovadora FT-IR microscopios, el IRT-5000/7000 Series proporciona nuevas funciones que mejoran drásticamente los análisis de infrarrojos micro-espectroscopia.Estos microscopios pueden ser fácilmente interconectados, ya sea con el / IR-FT 4000 y FT espectrómetros de la serie / IR-6000, ofreciendo a los sistemas de microscopía y de imagen más avanzadas disponibles en el mercado hoy en día. El acoplamiento de tecnología probada JASCO 's para la espectroscopia infrarroja (acumulado más de 50 años) con el diseño óptico más avanzado, el IRT-5000/7000 Series ofrecen la mejor solución para el análisis de la muestra incluso más desafiante. El sistema de microscopía compartimento de la muestra Irtronμ está diseñado para proporcionar análisis asequible de muestras microscópicas con las características de alto rendimiento de un accesorio microscopio FT-IR externo.

Un paquete de software de plataforma única único para cualquier sistema de espectroscopia de Jasco

Un paquete de software con todas las funciones, Spectra Manager proporciona funciones automáticas y procedimientos operativos simplificados para reducir al mínimo las operaciones manuales. Las condiciones de medición, las operaciones de vigilancia / control de ejemplo microscopio y resultados de las mediciones pueden ser revisados ​​en una sola pantalla.

La interfaz microscopio dedicado proporciona varios tipos de mediciones, tales como puntos simples y múltiples, trazado de mapas y mediciones de matriz lineal utilizando un solo clic del ratón para la pantalla de modo. se permite la monitorización en tiempo real de la imagen de espectro y química durante la medición de mapeo.

Mapeo ATR innovadora

Disponible en IRT-5000/7000 Series, el objetivo "Clear-View" ATR permite ver una muestra simultánea, incluso durante la recopilación de datos ATR después del elemento de cristal de contactos ATR la muestra. El Mapeo de IQ permite el mapeo de múltiples puntos automatizado, asignación de las líneas, la cartografía de la red y análisis de imágenes de infrarrojos de un área microscópica con una etapa manual de la muestra y un detector único elemento.

El Mapping IQ junto con "Clear-View" objetivo ATR permite ATR mapeo y ATR Imaging de cualquier muestra en contacto con el objetivo ATR sin mover la etapa de la muestra u objetivo ATR, mientras se observa la totalidad del área de la muestra que está en contacto con el elemento de cristal. Esta función proporciona una alta velocidad y medidas libres de contaminación cruzada de una pequeña área de muestreo.